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BMT-500大平臺式硅片顯微鏡 可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕、崩邊等;還可以對硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括： 顆粒、有機雜質(zhì)、無機雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉 塵等，造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍、發(fā)黑等現(xiàn)象，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產(chǎn)過程中*的檢測儀器之一。

BMT-300透反射硅片顯微鏡 可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕、崩邊等;還可以對硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括：顆粒、有機雜質(zhì)、無 機雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等，造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍、發(fā)黑等現(xiàn)象，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產(chǎn)企業(yè)進行質(zhì)量控制Z普通的儀器。

107JPC增強型測量顯微鏡 系統(tǒng)介紹： 增強型測量顯微鏡是將傳統(tǒng)的測量顯微鏡技術(shù)、*光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計算機圖像處理技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。該儀器不僅具有傳統(tǒng)的測量顯微鏡的作用，還具有計算機處理功能。

107JC測量顯微鏡 電腦型測量顯微鏡107JC 配有高精度的工作平臺、日本Mitutoyo的數(shù)顯測微頭、日本JVC進口攝像器。儀器可以直接在計算機屏幕上瞄準，無須人眼瞄準，減小人為誤差，從而保證儀器的高精度性，是一種理想的多用途的小型精密測量儀器。

107JA測量顯微鏡 適用于計量室，生產(chǎn)作業(yè)線以及科學(xué)研究等部門。本型號測量顯微鏡配有高精度的工作平臺和日本Mitutoyo的數(shù)顯測微頭，從而保證儀器的高精度性，是一種理想的多用途的小型精密測量儀器。